Międzynarodowe Targi „3D SOLUTIONS” – Targi Logistyki, Magazynowania, Transportu „MODERNLOG”
W dniach 7-8 czerwca 2018 roku grupa 7 uczniów naszej szkoły, kształcących się w zawodzie technik logistyk wzięła udział w 2-dniowej Wizycie Edukacyjnej w Poznaniu. W wyjeździe mogły uczestniczyć osoby zaangażowane w realizację Projektu „Nowoczesna Szkoła Zawodowa – Nowoczesny Region”.
W gronie 17 uczniów z terenu całego województwa świętokrzyskiego zakwalifikowanych do udziału w wycieczce znalazła się grupa 7 uczniów z naszej szkoły - Joanna Roman, Monika Adamczyk, Dominik Druzic, Wojciech Grudziecki, Kacper Klepacz, Jakub Piotrowski oraz Daniel Woźniak.
Głównym celem wyjazdu był udział w Targach 3D Solutions oraz Targach Logistyki, Magazynowania i Transportu MODERNLOG w Poznaniu.
W ramach Projektu dla wszystkich szkół zorganizowano Konkurs „Kreatywna Szkoła XII”. Celem Konkursu było:
- rozwijanie aktywności uczniów w obrębie swoich przedmiotów zawodowych oraz zwiększenie ich zaangażowania w zajęcia pozalekcyjne,
- rozwijanie kreatywności i przedsiębiorczości,
- popularyzacja wiedzy z zakresu technologii informacyjno-komunikacyjnych.
Konkurs miał na celu wyłonienie najzdolniejszych i najaktywniejszych uczniów ze wszystkich szkół uczestniczących w Projekcie „Nowoczesna Szkoła Zawodowa – Nowoczesny Region”. Laureaci Konkursu zostali wytypowani do udziału w wyjeździe.
W ramach 2-dniowej Wizyty Edukacyjnej uczniowie między innymi:
- odbyli spotkanie z przedstawicielami Wydziału Matematyki i Informatyki na Uniwersytecie Adama Mickiewicza,
- zwiedzili „Bramę Poznania” – multimedialną, interaktywną ekspozycję ukazującą historię Ostrowa Tumskiego
- zwiedzili Palmiarnię Poznańską, Stare Miasto, Plac Wolności ze słynnym Hotelem „Bazar”, zabytkowy Ratusz Poznański oraz Kościół Farny,
- zwiedzili siedzibę Firmy „WYKOP.PL”.
Wycieczka do Poznania, poza walorami krajoznawczo - turystycznymi w znaczący sposób zwiększyła zakres wiedzy (teoretycznej i praktycznej) „logistyków” realizujących zajęcia programowe w ramach przedmiotów zawodowych.